機器分析

樹脂の分析において、多用されている機器は赤外分光分析（FT-IR）、示差走査熱量分析（DSC）です。
樹脂の種類の判別ができるだけではなく、使い方の工夫次第で、結晶構造、接着面の評価などにも活用できます。
これらの機器と並び活用されている機器が、微小領域の全元素分析が短時間で実施できる元素分析装置付き走査型電子顕微鏡（SEM-EDX）です。　

Ⅰ. 赤外分光分析（FT-IR）

赤外線を分子に照射すると分子を作っている原子間の振動エネルギーに相当する赤外線を吸収します。
この吸光度合いを調べることによって化合物の構造を特定することができます。有機化合物の構造決定に特に有効となります。

Ⅱ. 示差走査熱量分析（DSC）

Ⅲ. 元素分析装置付き走査型電子顕微鏡（SEM-EDX）

試料に電子ビームを照射すると２次電子以外に多くの信号が発生します。
これらのうち、元素特有の波長（エネルギー）を持つ特性Ｘ線を検出することによりＢ(ホウ素)～Ｕ(ウラン)の元素分析を行うことができます。